Redigerer Mesoskopisk fysikk

{{Kildeløs|Helt uten kilder.|dato=10. okt. 2015}}
'''Mesoskopisk fysikk''' (fra gresk meso – mellom) betegner [[fysikk]] på lengdeskalaer som ligger mellom [[mikroskopisk]]- og [[makroskopisk]] fysikk. Dette sammenfaller i stor grad med [[nanoteknologi|nanometerområdet]], dvs. 0.1 [[nanometer|nm]] – 100 nm, selv om det er metoden som brukes, ikke lengeskalaen i seg seg selv, som bestemmer om noe er mesoskopisk fysikk. 

Mesoskopisk fysikk opererer med begreper fra flere ulike deler av fysikken, slik som [[mekanikk]], [[elektromagnetisme]], [[statistisk fysikk]] og [[kvantemekanikk]]. Elektriske egenskaper er som regel i sentrum og basismaterialet er dermed ofte [[halvleder]]e, hvor de elektriske egenskapene kan skreddersys. [[Metall]]er, [[isolator]]er og [[superleder]]e brukes der det er behov. Noen mesoskopiske systemer er mekaniske eller de opererer både elektrisk og mekanisk, slik som en [[molekylær skyttel]].


== Teori ==
Mesoskopisk fysikk bruker vekselvis metoder og modeller fra makroskopisk – og mikroskopisk fysikk. I likhet med makroskopisk fysikk er som regel antallet partikler stort slik at [[temperatur]] og [[entropi]] er meningsfulle størrelser og man kan operere med statistiske middelverdier av [[masse]], [[ladning]] og [[elektrisk strøm]]. I likhet med mikroskopisk fysikk oppleves ofte kvantisering av fysisk størrelser, f.eks. [[kvanteprikk]]er, [[kvanteledning]]er og [[kvantisert punktkontakt|kvantiserte punktkontakter]].


== Eksperimentelle metoder ==
De eksperimentelle metodene for mesoskopisk fysikk kan røft deles i to grupper: de som fabrikkerer mesosystemer og de som karakteriserer systemene. Metodene for fabrikkering er ofte modifiserte utgaver av standardmetoder i [[mikroteknologi]] og halvlederenhetfabrikkasjon.

=== Metoder for å lage mesosystemer og mesostrukturer ===
* [[Litografi]]teknikker, slik som [[optisk litografi]], [[elektronstrålelitografi]], [[ultrafiolett litografi]], [[ekstrem ultrafiolett litografi]] og [[imprint litografi]]
* [[Epitaksi]]
* [[Ioneimplantasjon]]
* [[Oksidasjon]]
* [[Etsing]], som deles i [[våt etsing|våt-]] og [[tørr etsing]]

=== Metoder for å karakterisere mesosystemer ===
* Måling av [[elektrisk strøm|strøm]], [[Elektrisk spenning|spenning]] og [[Elektrisk motstand|motstand]]
* [[Hallprobe]]r
* [[Skanning probemikroskoper]], slik som [[atomkraftmikroskop]] og [[skanning tunelleringsmikroskop]]
* [[Spredning]] av [[stråling]] mot prøven, slik som [[lysspredning]], [[røntgenstrålespredning]] og [[nøytronstrålespredning]]
* [[SIMS]]
{{Autoritetsdata}}



[[kategori:Fysikk]]
[[kategori:Nanoteknologi]]
[[Kategori:Mikroteknologi]]